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Camera di ciclaggio termico JESD22-A104

Camera di ciclaggio termico JESD22-A104 per test di affidabilità dei semiconduttori

Le camere di ciclaggio termico JESD22-A104 di LIB Industry sono progettate per test di affidabilità su dispositivi a semiconduttore, componenti elettronici, assemblaggi PCB e dispositivi elettronici per automotive. Le camere di ciclaggio termico simulano stress termici ripetuti per evidenziare affaticamento delle saldature, fessurazioni dei package, delaminazione e altri modi di guasto prima che i prodotti entrino sul mercato.

✔ Conforme al 100% alle condizioni A–M della JESD22-A104
✔ Velocità di rampa termica fino a 10°C/min–15°C/min
✔ Fluttuazione della temperatura ≤ ±0,5°C
✔ Uniformità della temperatura ≤ ±2,0°C
✔ Intervallo di temperatura da -70°C a +150°C

Supportando i requisiti di test JESD22-A104, AEC-Q100 e IEC 60068-2-14, le camere LIB offrono un ciclaggio termico accurato e ripetibile per la qualificazione dei semiconduttori e la validazione dell'affidabilità.


Modelli standard: TR5-100, TR5-225, TR5-500, TR5-800, TR5-1000 e altri modelli personalizzati.

Condizioni di test JESD22-A104 completamente supportate

Le camere per cicli termici LIB Industry sono progettate per supportare pienamente i profili di temperatura specificati nello standard JESD22-A104, consentendo agli utenti di passare facilmente da una condizione di test all’altra in base ai requisiti del prodotto. Supporto per le condizioni A–M di JESD22-A104.

Condizione

Bassa temperatura

Alta temperatura

Applicazioni tipiche

A

-55°C (+0/-10°C)

+85°C (+10/-0°C)

Elettronica di consumo, circuiti integrati di grado commerciale

B

-55°C (+0/-10°C)

+125°C (+10/-0°C)

Componenti industriali, elettronica automotive generica

C

-65°C (+0/-10°C)

+150°C (+10/-0°C)

Aerospaziale, militare, dispositivi a semiconduttore ad alta affidabilità

G

-40°C (+0/-10°C)

+125°C (+10/-0°C)

Elettronica automotive (AEC-Q100 / AEC-Q200)

H

-55°C (+0/-10°C)

+175°C (+10/-0°C)

Semiconduttori di potenza ad alta temperatura e dispositivi elettronici avanzati

La camera per cicli termici supporta profili di ciclo termico programmabili con velocità di rampa, tempi di permanenza e numero di cicli personalizzabili. I parametri di test possono essere configurati per soddisfare i requisiti JESD22-A104 in base alla massa del campione, al carico termico e agli obiettivi di qualificazione.


Perché scegliere LIB Industry per i test JESD22-A104?

Ampio intervallo di temperatura

Intervalli di temperatura disponibili:

  • -20°C to +150°C

  • -40°C to +150°C

  • -70°C to +150°C Adatto a tutte le condizioni di test JESD22-A104.

Controllo preciso della temperatura

  • Fluttuazione della temperatura: ±0,5°C

  • Deviazione della temperatura: ±2,0°C

  • Distribuzione uniforme del flusso d'aria Garantisce che ogni campione subisca lo stesso stress termico durante test di lunga durata.

Funzionamento continuo affidabile

I programmi di qualificazione dei semiconduttori richiedono spesso test di diverse settimane.

Le camere LIB offrono:

  • Camera di lavoro in acciaio inossidabile SUS304

  • Sistema di refrigerazione industriale

  • Ventilatore di circolazione a lunga durata

  • Capacità di funzionamento continuo Progettata per test di affidabilità prolungati senza interruzione.

Profili termici programmabili

Il controller touchscreen consente di creare profili di ciclo termico personalizzati, tra cui:

  • Controllo della velocità di rampa

  • Controllo del tempo di permanenza

  • Conteggio dei cicli

  • Funzionamento automatico

  • Registrazione dati

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Camera di prova in acciaio inossidabile

temperature_cycle_chamber8_-_副本.jpg

Sistema di refrigerazione efficiente

temperature_cycle_chamber_-_副本.jpg

Porta di accesso cavi sigillata

temperature_cycle_chamber9_-_副本.jpg

Sistema di circolazione dell'aria uniforme


Specifiche della camera per cicli termici JESD22-A104

Modello

TR5-100

TR5-225

TR5-500

TR5-800

TR5-1000

Dimensioni interne (mm)

400*500*500

500*600*750

700*800*900

800*1000*1000

1000*1000*1000

Dimensioni esterne (mm)

900*1050*1620

1000*1140*1870

1200*1340*2020

1300*1540*2120

1500*1540*2140

Volume interno

100L

225L

500L

800L

1000L

Carico termico

1000W

 

Intervallo di temperatura

A : -20℃ ~ +150 ℃

B : -40℃ ~ +150 ℃

C: -70℃ ~ +150 ℃

Fluttuazione della temperatura

± 0,5 ℃

Deviazione della temperatura

± 2,0 ℃

Velocità di raffreddamento

10℃/min (15℃/min)

Velocità di riscaldamento

10℃/min (15℃/min)

Controller

Controller touch screen LCD a colori programmabile, interfaccia multilingue, Ethernet, USB

Sistema di raffreddamento

Sistema di refrigerazione a compressione meccanica

Materiale esterno

Lamiera d'acciaio con rivestimento protettivo

Materiale interno

Acciaio inossidabile SUS304

Alimentazione

380V

Rumorosità massima

65 dBA


Applicazioni dei cicli termici JESD22-A104

I test di ciclo termico JESD22-A104 sono ampiamente utilizzati nei settori dei semiconduttori, dell'automotive e dell'elettronica per valutare l'affidabilità dei prodotti sottoposti a stress termici ripetuti.

Dispositivi a semiconduttore

BGA, QFN, CSP, pacchetti IC

Elettronica automotive

ECU, ADAS, sensori, BMS

Elettronica di potenza

IGBT, MOSFET, dispositivi SiC, convertitori di potenza

Sistemi elettronici

Assiemi PCB, apparecchiature di comunicazione, elettronica industriale e di consumo

Tutte le apparecchiature di test LIB sono supportate da unaGaranzia di 3 anni e assistenza tecnica a vitache garantisce affidabilità a lungo termine e supporto post-vendita globale.

Contattare LIB Industry per la configurazione adatta ai vostri requisiti di test JESD22-A104 orequisiti di test di shock termico.

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No.6 Zhangba First Street, High-Tech Area, Xi'an City, Shanxi Province, P.R. China 710065
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