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JESD22-A104 Camera per ciclaggio termico

Camera per cicli di temperatura JESD22-A104 per test di affidabilità dei semiconduttori

LIB IndustryCamere per cicli termici JESD22-A104sono progettate per test di affidabilità di dispositivi a semiconduttore, componenti elettronici, assemblaggi PCB ed elettronica automobilistica. Le camere per cicli termici simulano stress termici ripetuti per rivelare fatica dei giunti di saldatura, fessurazioni del package, delaminazione e altre modalità di guasto prima che i prodotti entrino sul mercato.

✔ Conforme al 100% alle condizioni A-M della JESD22-A104
✔ Velocità di rampa di temperatura fino a 10°C/min–15°C/min
✔ Fluttuazione di temperatura ≤ ±0,5°C
✔ Uniformità di temperatura ≤ ±2,0°C
✔ Gamma di temperatura da -70°C a +150°C

Supportando i requisiti di test JESD22-A104, AEC-Q100 e IEC 60068-2-14, le camere LIB forniscono cicli termici accurati e ripetibili per la qualifica e la validazione dell'affidabilità dei semiconduttori.


Modelli standard: TR5-100, TR5-225, TR5-500, TR5-800, TR5-1000 e altri modelli personalizzati.

Camera per cicli di temperatura LIB Industry per test di affidabilità secondo JEDEC JESD22-A104


Condizioni di test JESD22-A104 completamente supportate

Le camere di ciclaggio termico LIB Industry sono progettate per supportare pienamente i profili di temperatura specificati nel JESD22-A104, consentendo agli utenti di passare facilmente tra diverse condizioni di test in base ai requisiti del prodotto. Supporta le condizioni JESD22-A104 da A a M.

Condizione

Temperatura bassa

Temperatura alta

Applicazioni tipiche

A

-55°C (+0/-10°C)

+85°C (+10/-0°C)

Elettronica di consumo, circuiti integrati di grado commerciale

B

-55°C (+0/-10°C)

+125°C (+10/-0°C)

Componenti industriali, elettronica automobilistica generale

C

-65°C (+0/-10°C)

+150°C (+10/-0°C)

Aerospaziale, militare, dispositivi a semiconduttore ad alta affidabilità

G

-40°C (+0/-10°C)

+125°C (+10/-0°C)

Elettronica automobilistica (AEC-Q100 / AEC-Q200)

H

-55°C (+0/-10°C)

+175°C (+10/-0°C)

Semiconduttori di potenza ad alta temperatura e dispositivi elettronici avanzati

La camera di ciclaggio termico supporta profili di ciclaggio termico programmabili con velocità di rampa, tempi di permanenza e conteggi dei cicli personalizzabili. I parametri di test possono essere configurati per soddisfare i requisiti JESD22-A104 in base alla massa del campione, al carico termico e agli obiettivi di qualifica.


Perché scegliere LIB Industry per i test JESD22-A104?

Ampio intervallo di temperatura

Intervalli di temperatura disponibili:

  • -20°C a +150°C

  • -40°C a +150°C

  • -70°C a +150°C Adatto a tutte le condizioni di test JESD22-A104.

Controllo preciso della temperatura

  • Fluttuazione della temperatura: ±0,5°C

  • Deviazione della temperatura: ±2,0°C

  • Distribuzione uniforme del flusso d'aria Assicura che ogni campione subisca lo stesso stress termico durante i test di lunga durata.

Funzionamento continuo affidabile

I programmi di qualificazione dei semiconduttori richiedono spesso test di diverse settimane.

Le camere LIB sono dotate di:

  • Area di lavoro in acciaio inox SUS304

  • Sistema di refrigerazione industriale

  • Ventilatore di circolazione a lunga durata

  • Capacità di funzionamento continuo Progettata per test di affidabilità estesi senza interruzioni.

Profili termici programmabili

Il controller touchscreen consente agli utenti di creare profili di ciclaggio termico personalizzati, tra cui:

  • Controllo della velocità di rampa

  • Controllo del tempo di permanenza

  • Conteggio dei cicli

  • Funzionamento automatico

  • Registrazione dei dati

temperature_cycle_chamber6_-_副本.jpg

Camera di prova in acciaio inossidabile

temperature_cycle_chamber8_-_副本.jpg

Sistema di refrigerazione efficiente

temperature_cycle_chamber_-_副本.jpg

Porta di accesso per cavi sigillata

temperature_cycle_chamber9_-_副本.jpg

Sistema di circolazione del flusso d'aria uniforme


Specifiche della camera di ciclaggio termico JESD22-A104

Modello

TR5-100

TR5-225

TR5-500

TR5-800

TR5-1000

Dimensioni interne (mm)

400*500*500

500*600*750

700*800*900

800*1000*1000

1000*1000*1000

Dimensioni complessive (mm)

900*1050*1620

1000*1140*1870

1200*1340*2020

1300*1540*2120

1500*1540*2140

Volume interno

100L

225L

500L

800L

1000L

Carico termico

1000W

 

Intervallo di temperatura

A: -20 ℃ ~ +150 ℃

B: -40 ℃ ~ +150 ℃

C: -70 ℃ ~ +150 ℃

Fluttuazione della temperatura

± 0,5 ℃

Deviazione della temperatura

± 2,0 ℃

Velocità di raffreddamento

10℃/min (15℃/min)

Velocità di riscaldamento

10℃/min (15℃/min)

Controller

Controller touchscreen LCD a colori programmabile, interfaccia multilingue, Ethernet, USB

Sistema di raffreddamento

Sistema di refrigerazione a compressione meccanica

Materiale esterno

Lamiera d'acciaio con rivestimento protettivo

Materiale interno

Acciaio inox SUS304

Alimentazione

380V

Rumore massimo

65 dBA


Applicazioni di ciclaggio termico JESD22-A104

Il test di ciclaggio termico JESD22-A104 è ampiamente utilizzato nei settori dei semiconduttori, automobilistico ed elettronico per valutare l'affidabilità del prodotto sottoposto a stress termico ripetuto.

Dispositivi a semiconduttore

BGA, QFN, CSP, package IC

Elettronica automobilistica

ECU, ADAS, sensori, BMS

Elettronica di potenza

Dispositivi IGBT, MOSFET, SiC, convertitori di potenza

Sistemi elettronici

Assemblaggi PCB, apparecchiature di comunicazione, elettronica industriale e di consumo

Tutta l'attrezzatura di prova LIB è supportata da unagaranzia di 3 anni e assistenza tecnica a vitagarantendo affidabilità a lungo termine e supporto post-vendita globale.

Contattate LIB Industry per la configurazione giusta per il vostro JESD22-A104 orequisiti di test di shock termico.

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No.6 Zhangba First Street, High-Tech Area, Xi'an City, Shanxi Province, P.R. China 710065
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